Коммерциализация перовскитных солнечных элементов на основе сложных галогенидов свинца в значительной степени ограничена их низкой стабильностью при реальных условиях эксплуатации солнечных батарей. Среди трех основных внутренних факторов стресса, влияющих на производительность запечатанных солнечных элементов, а именно тепла, света и электрического поля, последний остается наименее изученным. В данной работе исследователи продемонстрировали влияние различных материалов для транспортировки дырок (HTMs), таких как PEDOT:PSS, NiOx, PTAA и гибридные NiOx/PTAA, на электрически индуцированную деградацию перовскитных солнечных элементов p-i-n, собранных с использованием CsxFA1−xPbI3 в качестве поглотительного материала. Несмотря на то, что прикладываемое электрическое смещение приводило к деградации всех типов устройств независимо от используемого HTM, элементы, собранные с промежуточными слоями PTAA и NiOx/PTAA, оказались наиболее стабильными благодаря более высокой химической инертности PTAA по отношению к другим компонентам устройства. ![]() Полученные результаты указывают на необходимость дальнейшего рационального проектирования новых HTMs, чтобы сделать перовскитные солнечные элементы достаточно стабильными для целевых практических приложений. Исследование проведено коллективом авторов ФИЦ ПХФ и МХ РАН: Виктория Озерова, Никита Емельянов, Юрий Федотов, Любовь Фролова – Группа молекулярной и гибридной электроники, С. М. Алдошин – научный руководитель ФИЦ ПХФ И МХ РАН, Павел Трошин – Лаборатория функциональных материалов для электроники и медицины При участии других центров исследований:
Victoria V Ozerova, Nikita A. Emelianov, Lyubov A Frolova, Yuri S Fedotov, Sergey I Bredikhin, S. M. Aldoshin, Pavel A. Troshin // Impact of the hole-transport layer materials on the field-induced degradation of p-i-n perovskite solar cells // Sustainable Energy and Fuels, том 8, издание 5, страницы 997-1003 Q-1, IF=5.6 |
Коммерциализация перовскитных солнечных элементов на основе сложных галогенидов свинца в значительной степени ограничена их низкой стабильностью при реальных условиях эксплуатации солнечных батарей. Среди трех основных внутренних факторов стресса, влияющих на производительность запечатанных солнечных элементов, а именно тепла, света и электрического поля, последний остается наименее изученным.
В данной работе исследователи продемонстрировали влияние различных материалов для транспортировки дырок (HTMs), таких как PEDOT:PSS, NiOx, PTAA и гибридные NiOx/PTAA, на электрически индуцированную деградацию перовскитных солнечных элементов p-i-n, собранных с использованием CsxFA1−xPbI3 в качестве поглотительного материала. Несмотря на то, что прикладываемое электрическое смещение приводило к деградации всех типов устройств независимо от используемого HTM, элементы, собранные с промежуточными слоями PTAA и NiOx/PTAA, оказались наиболее стабильными благодаря более высокой химической инертности PTAA по отношению к другим компонентам устройства.

Полученные результаты указывают на необходимость дальнейшего рационального проектирования новых HTMs, чтобы сделать перовскитные солнечные элементы достаточно стабильными для целевых практических приложений.
Исследование проведено коллективом авторов ФИЦ ПХФ и МХ РАН: Виктория Озерова, Никита Емельянов, Юрий Федотов, Любовь Фролова – Группа молекулярной и гибридной электроники, С. М. Алдошин – научный руководитель ФИЦ ПХФ И МХ РАН, Павел Трошин – Лаборатория функциональных материалов для электроники и медицины
При участии других центров исследований:
- Институт физики твердого тела Российской академии наук, Черноголовка, Россия
- Чжэнчжоуский научно-исследовательский институт, Харбинский технологический институт, Китай
Victoria V Ozerova, Nikita A. Emelianov, Lyubov A Frolova, Yuri S Fedotov, Sergey I Bredikhin, S. M. Aldoshin, Pavel A. Troshin // Impact of the hole-transport layer materials on the field-induced degradation of p-i-n perovskite solar cells // Sustainable Energy and Fuels, том 8, издание 5, страницы 997-1003 Q-1, IF=5.6