20– 24 апреля 2026 г. в ИОНХ РАН (г. Москва) пройдет конференция «Рентгеновские методы исследования веществ и материалов» РеМИс-2026.  

Секции конференции:

Секция 1. Дифракция рентгеновского излучения
            1.1. Монокристальная дифракция
            1.2. Порошковая дифракция
Секция 2. Рентгеновская рефлектометрия и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей
Секция 3. Рентгеновская эмиссионная спектрометрия
            3.1. Рентгенофлуоресцентный анализ
            3.2. Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ
Секция 4. Применение синхротронного излучения. Рентгеновская спектрометрия поглощения (XANES и EXAFS)
Секция 5. Рентгенофотоэлектронная спектрометрия
Секция 6. Рентгеновская томографи

Планируется публикация материалов конференции в журналах: «Журнал неорганической химии», «Координационная химия», «Заводская лаборатория. Диагностика материалов», «Аналитика», входящих в Белый список.

Язык конференции: русский.
Подача тезисов – до 27 февраля 2026 г.
Подробная информация о мероприятии на сайте: https://rarechemconf.ru/remis-2026/