Рубрика: Обновление оборудования

1. Основные положения
2. Порядок и сроки рассмотрения заявок на выполнение рабоот и (или) оказание услуг в интересах третьих лиц.
3. Основания отклонения заявок и условия подачи повтороной заявки.
4. Условия и порядок заключения договора.
5. Условия допуска к работе на Оборудовании ретьих лиц.
   Приложение №1
   Заявка на проведение аналитических исследований.

РЕГЛАМЕНТ (*.pdf)

Назначение

Спектрометр предназначен для определения содержаний элементов в диапазоне от Na до U в веществах, находящихся в твердом, порошкообразном, растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности или осажденных на фильтры.

Технические характеристики

• определяемые элементы от Na до U
• пределы обнаружения Na: 0,1%, Mg: 0,02%, от Al до P:
• 0,0005 – 0,003%, от S до U: 0,0001 – 0,0005%
• энергетическое разрешение – 9 эВ (Si Kα), 90 эВ (Fe Kα);
• мощность рентгеновской трубки – 160 Вт
• место проведения анализа – на воздухе

Назначение

Атомно-эмиссионный спектрометр позволяет проводить определение элементного состава любых твердых проб. Принцип работы основан на детектировании оптического эмиссионного спектра плазмы анализируемого вещества, создаваемой лазерными наносекундными импульсами.

Технические характеристики:

Определяемые элементы	от H до U
Диапазон измерения	от 0.01 ppм (Li) до 100%
Область спектральной чувствительности	185-1100 нм
Спектральное разрешение	0.028 нм
Место проведения анализа	на воздухе или в среде аргона
Наблюдение поверхности образца	выбор любой точки или зоны для анализа

Безжидкостная система CFMS позволяет исследовать магнитные свойства материалов в полях до 9 Тесла в интервале температур 1.6 – 400 К в режимах постоянного (DC) и переменного (AC – измерения) поля. Установка оснащена дополнительным модулем, позволяющим измерять электрическое сопротивление и эффект Холла.

Общие характеристики системы

Диапазон магнитного поля	± 9 Тесла
Диапазон рабочих температур	1,6К – 400К
Модуль магнитометра с вибрирующим образцом
Частота вибрации	Не менее 20 Гц
Среднеквадратичный шум при постоянном времени 1 с	Не более 10-6 emu
Модуль восприимчивости к переменному току
Чувствительность при 1 КГц при температуре 4 К	Не менее 10-7 emu
Стандартный диапазон частот	1 Гц – 20 кГц
Амплитуда переменного поля при 10 Гц	Не менее 5 мТл

Многофункциональный микроскоп, оснащенный двумя комплектами оптики(лазерное излучение с длиной волны 405 нм и источник белого цвета), позволяет решать следующие задачи:

• получение конфокальных изображений с широким полем обзора и высоким разрешением с возможностью выбора оптимального источника излучения с 6 различными длинами волн;
• наблюдение в режиме реального времени жидких и иных образцов;
• измерение высот на наноразмерном уровне в поле обзора, измеряемом в миллиметрах с использованием интерференционных методов;
• измерение толщин (более 1 мкм) прозрачных пленок с использованием принципов спектроскопической рефлектрометрии;
• определение параметров шероховатости в 2-х и 3–х измерениях согласно стандартам ISO и JIS.

Основные технические данные

Источник видимого света	Ксеноновая лампа
Источник лазерного излучения	Полупроводниковый лазер 405 нм
Измерения в плоскости XY	Точность: ±[0.02*(100/Увеличение объектива)+L/1000], мкм Воспроизводимость:10 нм
Измерения по оси Z	Точность:±(0.11+L/100), мкм Воспроизводимость: 10 нм Диапазон измерения: 7 мм

Комплект оборудования предназначен для in vivo и in vitro визуализации биолюминесценции и флуоресценции в исследованиях на мелких лабораторных животных и эукариотических клетках.

Флуоресцентная и биолюминесцентная визуализация является универсальным методом анализа различных биологических систем — от единичных молекул до целых организмов. Важнейшим и уникальным свойством визуализации in vivo является возможность неинвазивно в условиях, приближенных к физиологическим, получить изображение и наблюдать динамику молекулярных событий как на уровне целого организма, так и на субклеточном и клеточном уровнях. Этот подход активно развивается и успешно применяется в фармакологических исследованиях с использованием различных моделей заболеваний человека на экспериментальных животных.

Имиджер Vieworks VISQUE™ InVivo Smart-LF – Автоматизированная система для проведения, получения и анализа флюоресцентных и биолюминесцентных изображений малых лабораторных животных. Система оснащена высокочувствительной BSI-sCMOS камерой, светонепроницаемым темным кабинетом с полностью автоматизированными функциями для регистрации и анализа полученных изображений, а также всеми необходимыми аксессуарами для работы с животными, такими как подогреваемая платформа для животных, наличие разъемов для подключения системы газовой анестезии. Регулируемая область просмотра объекта позволяет одновременно исследовать
до 3-х мышей. Имиджер Smart-LF также позволяет регистрировать и анализировать изображения in vitro (блоты, гели, планшеты, чашки Петри). Возможность регистрации изображений от флуоресцентных и люминесцентных репортеров в диапазоне от зеленой до ближней инфракрасной области спектра.

Система оптической визуализации Vieworks VISQUE™ InVivo Smart-LF применяется в лабораториях для проведения исследований в таких направлениях как:

• Онкология
• Иммунология
• Генная и клеточная терапия
• Фармакология
• Токсикология
• Неврология
• Исследования сердечно-сосудистой системы
• Исследования метаболических и воспалительных процессов
• Исследования инфекционных заболеваний
• Исследования стволовых клеток
• Изучение миграции и распределения клеток in vivo и in vitro
• Биотехнология растений

Результаты исследований с использованием систем оптической визуализации in vivo успешно публикуются в высокорейтинговых научных изданиях.

Комплект оборудования на базе системы оптической визуализации (Vieworks VISQUE InVivo Smart-LF, Южная Корея) также включает систему газовой анестезии лабораторных животных (VetEquip RC2+, США), концентратор кислорода (VetEquip OxyVet, США), набор угольных фильтров для утилизации отходов (VaporGuard, США), а также систему для радиочастотной идентификации мелких лабораторных животных (PharmaSeq, Inc., США).

Реометр MCR 702 TwinDrive способен покрыть и решить любые реологические
задачи и приложения. Данный реометр может работать как в режиме контролируемой
скорости сдвига, так и напряжения сдвига. Это самая мощная и универсальная платформа
для динамического механического анализа твердых, мягких и жидких образцов.
Уникальная концепция позволяет выполнять динамический механический анализ при
изгибе, растяжении, сжатии и кручении, а также термомеханический анализ (TMA),
стандартные и высокоспецифические реологические измерения с помощью одного
прибора.

Основные технические характеристики:

Минимальный момент, вращение	1 нНм
Минимальный момент, осцилляция	0,5 нНм
Максимальный момент	230 мНм
Минимальная угловая скорость	10-9 рад/с
Максимальная угловая скорость	314 рад/с
Угловое отклонение, задаваемое значение	от 0,05 до ∞ мкрад
Минимальная угловая частота	10-7 рад/с
Максимальная угловая частота	628 рад/с
Разрешение момента	0,5 нНм
Угловое отклонение, разрешение	0,01 мкрад
Диапазон нормальной силы	0,005 – 50 Н
Разрешение нормальной силы	0,5 мН
Диапазон рабочих температур	от -160 до 600о С (в зависимости от используемой измерительной системы)
Источник УФ излучения	320-500 нм

Измерительные системы:

• Система коаксиальных цилиндров;
• Система «конус-плоскость»;
• Система «плоскость-плоскость»;
• Системы для динамического механического анализа (кантилевер, барабаны);
• Ячейка для изучения реологии фотоотверждаемых материалов при длине 320-500 нм.

Решаемые задачи:

• Регистрация кривой вязкости в широком диапазоне скоростей сдвига;
• Регистрация кривой течения в широком диапазон скоростей сдвига;
• Изучение реологии расплавов, низковязких жидкостей, вязкоупругих и пастообразных образцов, растворов полимеров;
• Измерение текучести: предела текучести, напряжения течения, межфазной вязкости для герметиков, адгезивов, смазок.
• Измерениеплощади гистерезиса: измерение напряжения сдвига и вязкости при увеличении скорости сдвига с последующим ее понижением;
• Определение модуля релаксации;
• Измерение ползучести у расплава, геля, пастоподобных веществ, высокоэластичных жидкостей, низковязких жидкостей;
• Измерение модуля релаксации у расплава полимера или эластомера;
• Исследование зависимости вязкости от температуры для образца, претерпевающего плавление и кристаллизацию при постоянной скорости сдвига;
• Измерения реологических свойств материалов при развертке по амплитуде и частоте (осцилляционный режим);
• Исследование процессов отверждения термореактивных олигомеров и полимеров при различных температурных режимах;
• Исследование процессов отверждения термореактивных олигомеров и полимеров под действием УФ излучения;
• Исследование стабильности эмульсий при высокой и низкой температуре от – 160 до 600 °С;
• Проведение динамического механического анализа на измерительных системахкантилевер и барабанах для пленок, волокон и прямоугольных образцов в линейном и вращательном режимах.

Назначение прибора:

ИК-фурье спектрометр предназначен для регистрации инфракрасных спектров поглощения, пропускания и отражения веществ. Компания PerkinElmer разработала надежный и максимально простой в эксплуатации спектрометр Spectrum Two специально для выполнения текущих (рутинных) анализов, для учебных и промышленных лабораторий, что позволяет максимально облегчить внедрение ИК-Фурье спектроскопии в лабораторную практику. Используя оптическую схему от
старших моделей спектрометров, в т.ч. и запатентованную конструкцию интерферометра Dynascan, устойчивую к вибрациям, система Spectrum Two является полноценным инфракрасным спектрометром без каких-либо компромиссов в вопросах функциональности и технических характеристик.

Оптика OpticsGuard дает возможность использовать прибор при повышенной влажности (до 90%) в течение более чем 3 лет без замены осушителя, а для особо жестких условий эксплуатации спектрометр может оснащаться оптикой из ZnSe.

На базе ИК-Фурье спектрометра Spectrum Two разработан ряд наборов для решения специализированных задач.

Технические характеристики:

Основной блок	ИК-Фурье спектрометр PerkinElmer SpectrumTwo
Детектор	Линейный во всем температурном диапазоне эксплуатации прибора на базе дейтерированного триглицилсульфата с Пельтье-термостабилизацией
Спектральный диапазон	8300 – 350 см‐1 (KBr)
Источник	С воздушным охлаждением, переменным направлением питания для устойчивого положения пятна свечения в фокусе прибора и увеличения срока службы прибора. Источник работает в едином режиме, отсутствуют специальные режимы, повышающие энергию излучения, но снижающих время жизни источника
Коррекция влияния атмосферы	В режиме реального времени без необходимости получения спектров паров воды и углекислого газа пользователем, линейная во всем температурном диапазоне эксплуатации прибора
Интерферометр	Интерферометр свободный от динамических ошибок. Обеспечивать высокий уровень энергии ИК-излучения во всем спектральном диапазоне. Полностью не восприимчив к различного рода вибрациям.
Лазер	Твердотельный лазер, встроенный в интерферометр для высокоэффективной долговременной службы и минимального обслуживания
Разрешение	не более 0,5cм -1
Соотношение сигнал/ шум	не менее 14500:1 (5 с сканирования фона и образца, 4см-1 разрешение) или 50000:1 1 мин сканирования
Приставка НПВО	Универсальная приставка НПВО (1 отражение, алмаз/ZNSE) для SPECTRUM TWO
Дополнительные возможности НПВО	Автоматическое распознавание, загрузка параметров и оптимизация приставок. Автоматическая юстировка приставок при установке. Контроль степени прижима образца к кристаллу в приставках НПВО в режиме on-line для предотвращения разрушения кристалла при переприжиме. Кинематическая поддержка кристалла в приставках НПВО для повышения точности измерений неоднородных образцов.
Программное обеспечение	Программное обеспечение Spectrum 10 включает встроенную библиотеку спектров и обеспечивает возможность количественного анализа.

Назначение прибора:

Дифракционная система Aeris предназначена для регистрации порошковых
рентгенограмм. Дифрактометр обеспечивает быстрый, надежный и точный анализ
фазового состава материала для решения широкого круга задач. Необходим для
отслеживания фаз в синтезированном материале, определения полиморфизма.
Для того чтобы получить массив кристаллографической информации, достаточно
просто собрать данные рентгеновской дифракции при помощи Aeris и использовать
комплект программного обеспечения HighScore.

Технические характеристики:

Базовая система	Дифрактометр с фокусировкой по Брэггу-Брентано, с вертикальным θ-θ гониометром. Никелевые бета- фильтры (на прямой и дифрагированный пучки), приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм, щели Соллера 0.04 радиана (на прямой и дифрагированный пучки), щели фиксированной апертуры (расходимости и анти-рассеивающая)
Диапазон углов 2θ	от -30 до 1450
Радиус гонеометра	145 мм
Высоковольтный генератор	Базовый: 300 Вт, стандартный режим 40 КВ/7,5 мА Повышенной мощности: 600 Вт, 40 КВ/15 мА
Рентгеновская трубка	Керамическая рентгеновская трубка с медным анодом (длинный тонкий фокус) производства PANalytical. Быстродействующий линейный детектор PIXcel1D (совместная разработка PANalytical и коллаборации Medipix3)
Модуль Дебая-Шеррера.	Позволяет визуализировать и анализировать Дебаевские кольца при исследованиях текстуры и степени кристалличности образцов.
Программное обеспечение HIGH SCORE	Пакет программного обеспечения выполняет обработку и проведение фазового анализа, а также: встроенный калькулятор Шеррера для определения размеров кристаллитов и микронапряжений решетки; индицирование, извлечение интенсивностей методами Pawley и Le Bail, анализ по методу Ритвельда; кластерный анализ с неограниченными возможностями по количеству данных; автоматический анализ по методу Ритвельда с использование RoboRiet; уточнение параметров элементарной ячейки; просмотр структур, вычисление расстояний и углов; анализ профилей пиков

Возможности прибора:

Микроскоп FTIR-neaSNOM позволяет одновременно исследовать наноструктуру и
спектральные свойства широкого круга объектов. Он позволяет объединить
преимущества нескольких методов: оптической спектроскопии в видимом и ИК
диапазонах длин волн от 400 нм до 15,4 мкм, терагерцовой спектроскопии (волны
0.1-1.0 мм) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) с латеральным разрешением
сканирования до 1 нм и вертикальным разрешением 0.2 нм. Возможности прибора
позволяют получать спектральную информацию даже с единичной молекулы!
Данный прибор является, по сути, единственным эффективным методом
исследования структуры и физико-химических свойств поверхности образца с
одновременным получением спектральной информации о его составе.
Данный микроскоп позволит исследовать любые объекты, с которых можно снять
информативный ИК спектр (фактически весь набор органических и
неорганических соединений), получая информацию о их составе и структуре на
наноуровне.

Технические характеристики и назначение:

Доступный диапазон длин волн:	0.5 – 20 мкм с возможностью расширения видимого диапазона до 0.4 мкм, а также работы в терагерцовом диапазоне (0.1-3.0 THz)
Диапазон регистрации спектров ИК	500-4000 см-1
Разрешение сканирования:	Латеральное – предельное 0.4 нм (реальное зависит от зонда, в рутинных измерениях 10-15 нм) Вертикальное – 0.2 нм
Режимы сканирования:	Контактные, полуконтактные.
Круг исследуемых объектов:	Полупроводники, оксиды металлов, полимеры, практически любые органические и неорганические тонкие пленки, пластины, кристаллы, биомолекулы.
Получаемые на микроскопе данные	Топография поверхности Фазовый контраст Магнитные свойства и доменная структура материалов с нанометровым разрешением; Локальная твердость образцов с нанометровым разрешением; Измерение вязкости и картирование по поверхности с нанометровым разрешением; Локальное распределение потенциала (работа выхода) и локальная электропроводность (conductive AFM); Реальное распределение носителей зарядов в образцах полупроводниковых материалов; ИК-спектры с любой точки поверхности + картирование поверхности по любым выбранным полосам в ИК-спектре с латеральным разрешение не хуже 15 нм;