Рубрика: Приборное обеспечение Голосов

Назначение: поверхностная модификация материалов

Характеристики:

•Иттербиевый импульсный волоконный лазер

•центральная длина волны 1030 нм

•максимальная выходная мощность 10 Вт

•частота следования импульсов от 1 Гц до 1 МГц

•длительность импульса: 250 фс

•Поле обработки XY гальваносканера 110Х110 мм, диаметр пятна в фокусе ~ 30 мкм

•Возможность установки 2 и 3 гармоники

•Максимальная скорость перемещения луча XY гальваносканера для поля 110х110 мм:  11 м/с

Назначение: для исследования структурных особенностей и топографии поверхности

Характеристики:

Увеличение	x20-x100 000 (эффективное: ~x50 000)
Ускоряющее напряжение	1 ~ 30 кВ (с шагом 1 кВ)
Электронная пушка	Вольфрамовый филамент (W)
Детекторы	SE

Назначение:

Импульсные методы позволяют измерять времена спин-спиновой и спин-решеточной релаксации, расшифровывать сложные спектры ЭПР неоднородных систем, используя различие их динамических характеристик, оценивать расстояния между парамагнитными центрами, между парамагнитным ионом и окружающими ядрами и многое другое.   

Характеристики:

•Рабочая частота (X-диапазон): 9,2…9,9 ГГц

•Число импульсных каналов: 8 шт.

•Мощность СВЧ генератора:источник волн (700мВт),волновод(200мВт)

•Выходная мощность твердотельного усилителя мощности: 450 Вт

•Ослабление мощности микроволнового излучения: 0…60 дБ, шаг 1 дБ

•Резонаторы:    цилиндрический    TE011,    диэлектрический  TE011  CW-режима,  диэлектрический  импульсного режима,

•Амплитуда модуляции магнитного поля: 0…20 Гс

•Максимальное  магнитное поле: 1,8 Тл

•Частота модуляции магнитного поля: 6,25-100 кГц

•Абсолютная чувствительность: 3*10¹³ спин/Тл 

•Интервал регулируемых температур: 4…300 К

•Разрешение времени импульса микроволнового источника: 50 пс

•Минимальная длина импульса π/2: 8 нс

Назначение

EPR мощный, универсальный, аналитический метод. В отличие от многих других методик, ЭПР дает значимую структурную и динамическую информацию, даже от текущих химических или физических процессов, не влияя на сам процесс. Таким образом, это идеальное дополнение для других методов в широком спектре исследований и областей применения. Предназначен для: измерения магнитной восприимчивости, регистрации парамагнитного резонанса

Характеристики:

•Цифровой синхронный детектор с возможностью регистрации до 5 производных ЭПР-сигнала одновременно

•Возможность одновременной регистрации ЭПР-сигнала со сдвигом 0° и 90° относительно сигнала модуляции

•Режим быстрой развертки магнитного поля (Rapid Scan) с частотой до 200 Гц и амплитудой развертки до 200 Гс, с возможностью синхронного или прямого детектирования

•Резонансная частота пустого резонатора: 9,85 ГГц

•Диапазон частот модуляции магнитного поля: 30 – 100 кГц

•Максимальная амплитуда модуляции магнитного поля: 20 Гс

•Совместим со всеми температурными системами

•Диапазон рабочих температур образца: 3,8 – 400 К (до 600 К с опциональными охлаждающими пластинами)

Оптический прибор с видеоподдержкой для измерения краевого угла OCA 20 является самым разносторонним прибором для измерения краевого угла смачивания и анализа контура капли.

Программное обеспечение для OCA 15Pro включает следующие функции:
SCA 20 — угол смачивания
SCA 21 — энергия поверхности
SCA 22 — поверхностное натяжение и натяжение на границе раздела фаз
SCA 23 — контур ламели
SCA 26 — осцилляция/релаксация

Назначение:

Многофункциональный микроскоп, оснащенный двумя комплектами оптики (лазерное излучение с длиной волны 405 нм и источник белого цвета), позволяет решать следующие задачи:

• получение конфокальных изображений с широким полем обзора и высоким разрешением;

• наблюдение в режиме реального времени жидких и иных образцов; – измерение высот на наноразмерном уровне;

• измерение толщин (более 1 мкм) прозрачных пленок

Характеристики

• Источник видимого света – Ксеноновая лампа
• Источник лазерного излучения – Полупроводниковый лазер 405 нм
• Диапазон увеличений: белый свет 92-2775x; лазер 1850-5550х
  

Виды исследований
– Получение конфокальных изображений
– 3D – визуализация исследуемых объектов
– Построение профилограмм
– Построение мозаичных (панорамных) изображений
– Измерение толщин прозрачных пленок
– Определение геометрических размеров объектов, определение перепадов высот
– Определение параметров шероховатости в 2-х и 3-х измерениях согласно стандартам ISO и JIS
– Съемка различных процессов в образцах

Требования к образцам: любые, за исключением воспламеняющихся/взрывающихся на воздухе

Назначение:

Безжидкостная система CFMS позволяет исследовать магнитные свойства материалов в полях до 9 Тесла в интервале температур 1.6 – 400 К в режимах постоянного (DC) и переменного (AC – измерения) поля. Установка оснащена дополнительным модулем, позволяющим измерять электрическое сопротивление и эффект Холла.

Характеристики

– Диапазон магнитного поля: 9 Тесла;

– Диапазон рабочих температур: 1.6 – 400К;

– Частота вибрации: не менее 20 Гц;

– Чувствительность при 1 КГц при температуре 4 К: Не менее 10^-7 emu; – Амплитуда переменного поля при 10 Гц: не менее 5 мТл

Требования к образцам:

• Твердые образцы/порошки;
• Оптимальный размер 5 мм или менее;
• Максимальный размер 10 мм;
• Используемая масса порошка 10-70 мг;

Назначение:

Атомно-эмиссионный спектрометр позволяет проводить определение элементного состава любых твердых проб. Принцип работы основан на детектировании оптического эмиссионного спектра плазмы анализируемого вещества, создаваемой лазерными наносекундными импульсами

Характеристики:

•определяемые элементы от H до U; диапазон измерения от 0.01 ррм (Li) до 100%;

•область спектральной чувствительности: 185-1100 нм;

•спектральное разрешение: 0.028 нм;

•анализ производится на воздухе или в среде аргона;

•наблюдение поверхности образца, выбор любой точки или зоны для анализа

Подготовка проб:

1. Для анализа твердых, монолитных материалов (металлы, сплавы, стекла, керамика и т. п.) пробоподготовка
   не требуется или заключается в получении плоского участка поверхности пробы.
2. При анализе прозрачного образца (стекло, кристалл) зону анализа дополнительно шлифуют.
3. Для анализа порошковых проб материалы измельчают с последующим прессованием таблеток.

Характеристики:

Пространственное разрешение: горизонтальное до 200 нм; осевое до 500 нм.
Широкий спектральный диапазон:
785 нм: 50 — 3700 см-1;
633 нм: 60 — 6700 см-1;
532 нм: 150 — 10000 см-1
Специальный монохроматор-спектрограф с уникальными характеристиками: Спектральное разрешение 0.25 см-1
Абсолютная точность по длине волны: не хуже 0.016 нм.
Площадь сканирования: 150 х 150 мкм. Система сканирования позволяет осуществлять быстрое
сканирование (1001 х 1001 точек за 3 секунды). Точность позиционирования 30 нм
Одновременный многофункциональный анализ:
– Рамановские измерения;
– люминесцентные измерения;
– измерения лазерного отражения и пропускания;
– трехмерные (3D) высококонтрастные изображения в отраженном свете; трехмерные (3D) Рамановские конфокальные измерения;
– информация о спектральных и поляризационных свойствах образцов

Области применения

• Анализ химического состава и физической структуры функциональных материалов, а также нано- и гетероструктур на их основе.
• Изучение химических и физических свойств новых материалов, определение напряжений и
  деформаций, оценка упорядоченности структуры.
• Идентификация материалов, определение фазового состава и распределения по образцу.
• Контроль процессов нанесения покрытий и исследования полимерных материалов, включая
  нанопленки.
• Многообразные приложения в биологии, в частности исследование тканей, клеток, раковых
  образований, результатов применения лекарственных препаратов