Назад
Рентгеновский дифрактометр Aeris (производства Malvern PANalytical B.V.)(Нидерланды, 2020 г)

Назначение прибора:

Дифракционная система Aeris предназначена для регистрации порошковых
рентгенограмм. Дифрактометр обеспечивает быстрый, надежный и точный анализ
фазового состава материала для решения широкого круга задач. Необходим для
отслеживания фаз в синтезированном материале, определения полиморфизма.
Для того чтобы получить массив кристаллографической информации, достаточно
просто собрать данные рентгеновской дифракции при помощи Aeris и использовать
комплект программного обеспечения HighScore.

Технические характеристики:

Базовая системаДифрактометр с фокусировкой по Брэггу-Брентано, с вертикальным θ-θ
гониометром.
Никелевые бета- фильтры (на прямой и дифрагированный пучки), приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм, щели Соллера 0.04 радиана (на
прямой и дифрагированный пучки), щели фиксированной апертуры
(расходимости и анти-рассеивающая)
Диапазон углов 2θот -30 до 1450
Радиус гонеометра145 мм
Высоковольтный генераторБазовый: 300 Вт, стандартный режим 40 КВ/7,5 мА
Повышенной мощности: 600 Вт, 40 КВ/15 мА
Рентгеновская трубкаКерамическая рентгеновская трубка с медным анодом (длинный тонкий фокус) производства PANalytical. Быстродействующий линейный
детектор PIXcel1D (совместная разработка PANalytical и коллаборации
Medipix3)
Модуль Дебая-Шеррера.Позволяет визуализировать и анализировать Дебаевские кольца при исследованиях текстуры и степени кристалличности образцов.
Программное обеспечение HIGH
SCORE		Пакет программного обеспечения выполняет обработку и проведение
фазового анализа, а также:
встроенный калькулятор Шеррера для определения размеров кристаллитов и микронапряжений решетки;
индицирование, извлечение интенсивностей методами Pawley и Le
Bail, анализ по методу Ритвельда;
кластерный анализ с неограниченными возможностями по количеству данных;
автоматический анализ по методу Ритвельда с использование RoboRiet;
уточнение параметров элементарной ячейки;
просмотр структур, вычисление расстояний и углов;
анализ профилей пиков

Назначение прибора:

Дифракционная система Aeris предназначена для регистрации порошковых
рентгенограмм. Дифрактометр обеспечивает быстрый, надежный и точный анализ
фазового состава материала для решения широкого круга задач. Необходим для
отслеживания фаз в синтезированном материале, определения полиморфизма.
Для того чтобы получить массив кристаллографической информации, достаточно
просто собрать данные рентгеновской дифракции при помощи Aeris и использовать
комплект программного обеспечения HighScore.

Технические характеристики:

Базовая системаДифрактометр с фокусировкой по Брэггу-Брентано, с вертикальным θ-θ
гониометром.
Никелевые бета- фильтры (на прямой и дифрагированный пучки), приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм, щели Соллера 0.04 радиана (на
прямой и дифрагированный пучки), щели фиксированной апертуры
(расходимости и анти-рассеивающая)
Диапазон углов 2θот -30 до 1450
Радиус гонеометра145 мм
Высоковольтный генераторБазовый: 300 Вт, стандартный режим 40 КВ/7,5 мА
Повышенной мощности: 600 Вт, 40 КВ/15 мА
Рентгеновская трубкаКерамическая рентгеновская трубка с медным анодом (длинный тонкий фокус) производства PANalytical. Быстродействующий линейный
детектор PIXcel1D (совместная разработка PANalytical и коллаборации
Medipix3)
Модуль Дебая-Шеррера.Позволяет визуализировать и анализировать Дебаевские кольца при исследованиях текстуры и степени кристалличности образцов.
Программное обеспечение HIGH
SCORE		Пакет программного обеспечения выполняет обработку и проведение
фазового анализа, а также:
встроенный калькулятор Шеррера для определения размеров кристаллитов и микронапряжений решетки;
индицирование, извлечение интенсивностей методами Pawley и Le
Bail, анализ по методу Ритвельда;
кластерный анализ с неограниченными возможностями по количеству данных;
автоматический анализ по методу Ритвельда с использование RoboRiet;
уточнение параметров элементарной ячейки;
просмотр структур, вычисление расстояний и углов;
анализ профилей пиков