Назначение: Атомно-эмиссионный спектрометр позволяет проводить определение элементного состава любых твердых проб. Принцип работы основан на детектировании оптического эмиссионного спектра плазмы анализируемого вещества, создаваемой лазерными наносекундными импульсами Характеристики: •определяемые элементы от H до U; диапазон измерения от 0.01 ррм (Li) до 100%; •область спектральной чувствительности: 185-1100 нм; •спектральное разрешение: 0.028 нм; •анализ производится на воздухе или в среде аргона; •наблюдение поверхности образца, выбор любой точки или зоны для анализа Подготовка проб:
|
Назначение:
Атомно-эмиссионный спектрометр позволяет проводить определение элементного состава любых твердых проб. Принцип работы основан на детектировании оптического эмиссионного спектра плазмы анализируемого вещества, создаваемой лазерными наносекундными импульсами
Характеристики:
•определяемые элементы от H до U; диапазон измерения от 0.01 ррм (Li) до 100%;
•область спектральной чувствительности: 185-1100 нм;
•спектральное разрешение: 0.028 нм;
•анализ производится на воздухе или в среде аргона;
•наблюдение поверхности образца, выбор любой точки или зоны для анализа
Подготовка проб:
- Для анализа твердых, монолитных материалов (металлы, сплавы, стекла, керамика и т. п.) пробоподготовка
не требуется или заключается в получении плоского участка поверхности пробы. - При анализе прозрачного образца (стекло, кристалл) зону анализа дополнительно шлифуют.
- Для анализа порошковых проб материалы измельчают с последующим прессованием таблеток.