office@icp.ac.ru
+7 496 522-51-64
Настольный растровый электронный микроскоп EM-30(COXEM, Южная Корея)
Назначение: для исследования структурных особенностей и топографии поверхности
Характеристики:
| Увеличение | x20-x100 000 (эффективное: ~x50 000) |
| Ускоряющее напряжение | 1 ~ 30 кВ (с шагом 1 кВ) |
| Электронная пушка | Вольфрамовый филамент (W) |
| Детекторы | SE |